基于SST89E58RD2的智能测试系统设计

[09-12 16:24:13]   来源:http://www.88dzw.com  单片机学习   阅读:8837

文章摘要:一个I2C接口 用于读写被测主板的I2C的E2PROM。测试步骤如下:(1)被测主板的电源测试该电源的标称值为5V,判定条件为是否在4.75-5.25V之间,可通过由一个N555搭建的SHMILT比较器进行判断,通过指示灯显示结果是否正常。如果电源检测不能通过,后续的检测步骤不再进行,并由蜂鸣器提示。(2)被测主板的 SPI连接测试和测试程序下载通过SPI口串行下载命令读取被测主板CPU的特征码,通过识别判断为AT89S52芯片(麻将机主机板选用的单片机型号),即认为被测主板已连接上。因对于SST89E58单片机而言,他的SPI口是一个完全的SPI口,但AT89E52单片机的SPI口是用于FL

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一个I2C接口 用于读写被测主板的I2C的E2PROM。



测试步骤如下:


(1)被测主板的电源测试


该电源的标称值为5V,判定条件为是否在4.75-5.25V之间,可通过由一个N555搭建的SHMILT比较器进行判断,通过指示灯显示结果是否正常。如果电源检测不能通过,后续的检测步骤不再进行,并由蜂鸣器提示。


(2)被测主板的 SPI连接测试和测试程序下载


通过SPI口串行下载命令读取被测主板CPU的特征码,通过识别判断为AT89S52芯片(麻将机主机板选用的单片机型号),即认为被测主板已连接上。因对于SST89E58单片机而言,他的SPI口是一个完全的SPI口,但AT89E52单片机的SPI口是用于FLASH的ISP功能,当特征码读对后,表明SPI口连线正常,此时测试系统将向被测主板下载测试程序,该测试程序的代码放在SST89E58RD2的FLASH地址为0X7000-0X7FF的空间内,下载完成后将使被板测主可以配合智能测试系统进行检测。


(3)被测主板的DI功能测试


 将被测主板的16点DI分成两组,8点一组,与测试系统的DO口线相连,通过测试系统输出DO信号经被测主板采样后,再通过SPI口通讯读回采样数据,比较输出信号与采样信号的异同、判断是否有通道异常,若存在异常则通过故障指示灯显示。


(4)被测主板的DO功能测试


将被测主板的12个DO分成2组,8点一组和4点一组,与测试系统的DI口连接,通过SPI口通讯命令,让被测主板进行特定状态输出,测试系统通过DI采样,比较采样数据和输出特征数据的异同、判断是否有通道异常,若存在异常则通过故障指示灯显示。


(5)被测主板的断电数据保存测试


因被测主板另有一个非常重要的断电数据保存功能,该功能可使被测主板内部的电源检测电路一旦检测到失去电源后,CPU会在有限的时间内将一些特征数据存放到外部E2PROM(AT24C64)中。针对此功能,测试系统将通过I2C总线直接读取E2PROM内部的数据判断断电数据保存是否有效,通过指示灯指示。


(6)查看故障指示灯,完成测试


以上5个步骤完成后如果没头有指示灯显示故障,则可按下下载按键,将麻将机主机板的程序下载到AT89S52中,完成整个测试。如果发现还有故障,则按后退键再次进行测试,以便确认故障。


5 智能测试系统关键的程序代码



测试步进处理程序:



6 结 语


本设计实现的智能测试系统已应用于某自动麻将机的生产厂家,并取得了良好的应用效果。以往该厂产品的出厂检测均采用人工检测模式,完成检测需要花费20 min,且检测的范围局限于最主要的几项指标;引入本智能检测系统后,只需2min即可完成对产品的检测,且检测的范围覆盖了绝大部分功能,遇到检测不能通过的产品还可以根据智能检测系统的提示快速、准确地找到故障源,大大提高了生产效率。


该智能测试系统还可以进行更深入的开发:


(1)目前很多电子产品出厂前需要进行带电老化测试,但仅仅是带电空载,如果将智能测试系统引入老化测试,模拟产品的工作负载,使产品在老化测试的过程中满负荷工作,则能通过该老化测试的产品将在实际应用中体现出更稳定、可靠的性能。


(2)电子产品出厂前都需要标注序列号,以及产品的版本号,如何将产品的实体与序列号、版本号有效地控制起来,一直是众多厂家的棘手问题,如果将智能测试系统引入出厂产品的序列号、版本号管理也将是非常有效的,利用智能测试系统的上位机扩展功能,通过RS232与计算机相连,智能测试系统在向测试产品下载程序之前已经获取了该产品的版本号,再根据当天日期和出厂顺序等一系列属性计算出出厂序列号,当该产品检测通过后,智能测试系统将序列号和版本号上送给上位计算机,计算机中的专用软件将序列号和版本号存入数据库,并将序列号标注在产品上。
 
目前,本设计实现的智能测试系统正在进行二期开发,拟将智能测试系统引入老化测试和出厂序列号管理,开发成功后,将可大大完善系统的性能、提高系统的适用范围。


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