IC测试新技术新标准发展动向

文章摘要：四、数字测试新标准有待扩充改进 IEEE和VSI（虚拟插座接口）联盟等标准化组织，都是通过使IC测试的某些方面实现一致性来降低测试成本。如果每一测试设备，不管谁开发的，都能运行设计IC时开发的测试图形，就能缩短测试时间，降低测试成本。1999年获得正式批准的标准IEEE1450是有关数字测试矢量的标准测试接口语言（STIL）。它能将CAD和CAE环境的测试矢量传输给自动测试设备。IC生产商与自动测试设备制造商的工业联合体一起开发了这种标准测试接口语言，是为了解决大量数字测试数据的装入问题。这一标准语言的确定对涉及这一问题的各方（产生数据的电子设计自动化设备供货商、处理数据的IC供货商和接受数据

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四、数字测试新标准有待扩充改进

　　IEEE和VSI（虚拟插座接口）联盟等标准化组织，都是通过使IC测试的某些方面实现一致性来降低测试成本。如果每一测试设备，不管谁开发的，都能运行设计IC时开发的测试图形，就能缩短测试时间，降低测试成本。1999年获得正式批准的标准IEEE1450是有关数字测试矢量的标准测试接口语言（STIL）。它能将CAD和CAE环境的测试矢量传输给自动测试设备。IC生产商与自动测试设备制造商的工业联合体一起开发了这种标准测试接口语言，是为了解决大量数字测试数据的装入问题。这一标准语言的确定对涉及这一问题的各方（产生数据的电子设计自动化设备供货商、处理数据的IC供货商和接受数据的自动测试设备供货商）都是有益的。标准测试接口语言能在仿真器、自动测试图形发生器（ATPG）、内置自测试（BIST）和自动测试设备之间传输测试图形，而现有的设计工具的不同软件界面不能进行这种传输。通过采用连接IC设计和测试环境的标准方式很容易产生、传输和处理测试数据。通过对数据通用格式的定义，IEEE1450允许立即连接支持该标准的测试设备。不需要支持特殊语言的内部测试接口，也不用修改这些接口，就能支持不同的设备。这一关联的标准使得产生共享工具的环境成为可能，并可在供货商和测试环境之间寻找到通用的测试流。

　　标准测试接口语言支持测试设备的仿真和自动测试图形发生器工具产生的定时、技术性能、图形和串行扫描描述。功能强大的波形支持信号定时的分级定义，并十分适合现代微处理器的总线结构。定时可用定时性能表和定时关系表来表示。

　　测试矢量数据可用增量格式，以取消冗余的数据。循环矢量可定义为宏信息，以进一步减少测试数据量。由于构成了标准测试接口语言格式，因此，当微处理器供货商需要时，还可以对图形文件进行修改和重复使用。标准测试接口语言存储支持边界扫描的串行扫描数据，不用干预测试转换，就可直接进行测试。IC数字测试其它方面的标准化工作还在进行，数据IEEE1450标准工作组的意见，标准化努力已扩大到5个方面。在半导体设计环境方面有P1450.1，直流电平的技术性能方面有P1450.2，测试仪的测试对象方面有P1450.3，测试流方面有P1450.4，半导体测试方法方面有P1450.5。这5方面中的每一方面都与主要的IEEE1450标准有关，并是具有其它能力的完整方面。它们可单独使用，如果一个环境需要所有的能力，也可集中使用。最终，IEEE1450系列标准将包括以上所有这些方面，但是要制定每一标准的所有条款还需要一段时间。

　　IEEE1450.1就是个很好的例子。这一有关设计环境的标准测试接口语言（STIL）扩展包括由嵌入核测试标准开发组确定的结构。其构想是用标准测试接口语言来定义结构，以便对设计的嵌入核的测试图形进行定义，从而这些测试可合并到整个器件的更高一级测试中。这样，利用标准测试接口语言定义的结构必须能将测试器件环境获得的失效信息与原始激励和设计数据关联起来。如何做到所有这些是个“难点”，为了扩大标准测试接口语言定义在IC设计阶段的应用，必须扩展执行概念，使标准接口语言作为一种激励语言。采用这种方式，该语言可能首先作为数据的中间形式，然后获得测试环境下作为输入端模拟数据所需的设计信息。

　　最终，标准制定小组规划确定一种结构，它能使设计环境与测试失效信息相关联。然后，通过采用标准测试接口语言的失效输入，完成调试和诊断。

五、嵌入核测试标准急需系统推出

　　现在芯片设计的一个重点是系统级芯片。这种IC将重复使用已设计好的功能复杂的电路模块，即嵌入核，也称为IP模块或虚拟部件。对包括两个或多个厂商提供的嵌入核的IC的可测性来说，还没有一个标准。每一个核提供商都在其产品上设计了一些可测性电路。然而，如果没有单独定义的、公开的可测性设计方法，核集成商不能自动检测每一核的可测性，也不能对它们进行集成。

　　IEEE P1500是测试嵌入核的推荐标准。它已正式称为基于嵌入核的IC的P1500标准可测性方法。P1500工作组为重复使用IP模块的IC制定了一个标准可测性方法。该标准的概念在于具有独立性，即嵌入核具有自测试电路，在功能上与整个IC或其它嵌入核无关。

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