ESD保护时怎样维持USB信号完整性

文章摘要：图4、ESD9C5.0ST5G6pF器件，其中箭头重点说明了采用较高电容器件时开始出现信号质量下降。最后测试采用65pF电容ESD保护器件(安森美半导体ESD9X5.0ST5G)来进行，见图5。这眼图显示信号质量退化严重，上升和下降时间显示增加。信号迹线穿越USB2.0眼图模板，显示这保护器件不能用于USB2.0应用。ESD9L5.0ST5G的超低电容(0.5pF)为USB2.0高速应用提供了最佳的半导体ESD保护器件设计选择。上述眼图研究显示ESD9L5.0ST5G对逻辑电平的影响极低，并且不会使上升时间和下降时间出现失真。除了对数据信号传输没有干扰，这器件还拥有高于8kV的ESD额定电平，

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图4、ESD9C5.0ST5G6pF器件，其中箭头重点说明了采用较高电容器件时开始出现信号质量下降。

最后测试采用65pF电容ESD保护器件(安森美半导体ESD9X5.0ST5G)来进行，见图5。这眼图显示信号质量退化严重，上升和下降时间显示增加。信号迹线穿越USB2.0眼图模板，显示这保护器件不能用于USB2.0应用。

ESD9L5.0ST5G的超低电容(0.5pF)为USB2.0高速应用提供了最佳的半导体ESD保护器件设计选择。

上述眼图研究显示ESD9L5.0ST5G对逻辑电平的影响极低，并且不会使上升时间和下降时间出现失真。除了对数据信号传输没有干扰，这器件还拥有高于8kV的ESD额定电平，为设计人员提供极佳的ESD保护器件选择，不仅能够提供所需的ESD保护，同时还维持信号完整性。

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