多层陶瓷封装外壳的微波设计
[08-09 20:48:27] 来源:http://www.88dzw.com 镀层涂覆 阅读:8631次
文章摘要:图3中的X和1的计算公式如下。为了得到满足微波传输要求的封装外壳设计,使用HFSS来见了该封装外壳的微波传输模型。通过对模型进行仿真来获得端口阻抗、插入损耗以及驻波比的数据。并在此基础上对微带线过度结构不断优化,最终获得了满足性能要求的设计。首先算出微带线尺寸数据进行建模,得到粗略的模型如图4。把建立的模型赋予材质和边界条件后,设定仿真条件后就可以求解。通过求解可以得到该结构的阻抗矩阵,插入损耗以及驻波比。经过仿真可以看到该模型得端口阻抗如表1。得到的端口阻抗接近于50Ω,但插入耗损以及驻波比的数值比较大,如图5,尚需要优化。观察电磁场在该结构模型中的分布可以发现:在微带线的过渡出电场强度较大
多层陶瓷封装外壳的微波设计,标签:镀层技术,涂覆工艺,http://www.88dzw.com图3中的X和1的计算公式如下。
为了得到满足微波传输要求的封装外壳设计,使用HFSS来见了该封装外壳的微波传输模型。通过对模型进行仿真来获得端口阻抗、插入损耗以及驻波比的数据。并在此基础上对微带线过度结构不断优化,最终获得了满足性能要求的设计。首先算出微带线尺寸数据进行建模,得到粗略的模型如图4。
把建立的模型赋予材质和边界条件后,设定仿真条件后就可以求解。通过求解可以得到该结构的阻抗矩阵,插入损耗以及驻波比。经过仿真可以看到该模型得端口阻抗如表1。
得到的端口阻抗接近于50Ω,但插入耗损以及驻波比的数值比较大,如图5,尚需要优化。
观察电磁场在该结构模型中的分布可以发现:在微带线的过渡出电场强度较大,且分布很不均匀。过剩的电荷在此处集中,导致能量辐射损失,造成插损和驻波比偏大,符合上述的理论分析。电场分布图如图6。
根据第一次仿真的结构进行分析,使用SPACEMAPPING的方法在HFSS里对该结构进行优化。
a. 第一次优化后的模型如图7,结果也不是很理想,驻波比仍然偏大。
b. 在此优化后确定模型结构、尺寸如图8。
再次设置材质和边界,进行仿真。得到的端口阻抗数据如表2。
特性阻抗情况比前几次有所改善,插入损耗以及驻波比如图9。
这次模型仿真结构比较理想,在X波段端口阻抗为48.3Ω,相位变化为-0.05°,基本上达到了阻抗匹配的目的;在其间工作频率下,插入损耗<1.05,可以满足期间的工作要求。在此观察电磁场在此结构中的分布(图10)。
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