PCB化学镍金及OSP工艺步骤和特性分析

[09-12 18:53:54]   来源:http://www.88dzw.com  PCB设计   阅读:8220

文章摘要:本文主要对PCB表面处理工艺中两种最常用制程:化学镍金及OSP工艺步骤和特向进行分析。1、化学镍金1.1基本步骤脱脂→水洗→中和→水洗→微蚀→水洗→预浸→钯活化→吹气搅拌水洗→无电镍→热水洗→ 无电金→回收水洗→后处理水洗→干燥1.2无电镍A. 一般无电镍分为"置换式"与"自我催化"式其配方极多,但不论何者仍以高温镀层质量较佳B. 一般常用镍盐为氯化镍(Nickel Chloride)C. 一般常用还原剂有次磷酸盐类(Hypophosphite)/甲醛(Formaldehyde)/联氨 (Hydrazine)/硼氩化合物(Borohydride)/硼氢化

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  本文主要对PCB表面处理工艺中两种最常用制程:化学镍金及OSP工艺步骤和特向进行分析。

  1、化学镍金

  1.1基本步骤

  脱脂→水洗→中和→水洗→微蚀→水洗→预浸→钯活化→吹气搅拌水洗→无电镍→热水洗→ 无电金→回收水洗→后处理水洗→干燥

  1.2无电镍

  A. 一般无电镍分为"置换式"与"自我催化"式其配方极多,但不论何者仍以高温镀层质量较佳

  B. 一般常用镍盐为氯化镍(Nickel Chloride)

  C. 一般常用还原剂有次磷酸盐类(Hypophosphite)/甲醛(Formaldehyde)/联氨 (Hydrazine)/硼氩化合物(Borohydride)/硼氢化合物(Amine Borane)

  D. 螯合剂以柠檬酸盐(Citrate)最常见。

  E. 槽液酸碱度需调整控制,传统使用氨水(Amonia),也有配方使用三乙醇氨(Triethanol Amine),除可调整PH及比氨水在高温下稳定,同时具有与柠檬酸钠结合共为镍金属螯合剂,使镍可顺利有效地沉积于镀件上。

  F. 选用次磷二氢钠除了可降低污染问题,其所含磷对镀层质量也有极大影率。

  G. 此为化学镍槽其中一种配方。

  配方特性分析:

  a. PH值影响:PH低于8会有混浊现像发生,PH高于10会有分解发生,对磷含量及沉 积速率及磷含量并无明显影响。

  b.温度影响:温度影响析出速率很大,低于70°C反应缓慢,高于95°C速率快而无法控制.90°C最佳。

  c.组成浓度中柠檬酸钠含量高,螯合剂浓度提高,沉积速率随之下降,磷含量则随螯合 剂浓度增加而升高,三乙醇氨系统磷含量甚至可高到15.5%上下。

  d.还原剂次磷酸二氢钠浓度增加沉积速率随之增加,但超过0.37M后槽液有分解现像, 因此其浓度不可过高,过高反而有害。磷含量则和还原剂间没有明确关系,因此一般 浓度控制在O.1M左右较洽当。

  e.三乙醇氨浓度会影响镀层磷含量及沉积速率,其浓度增高磷含量降低沉积也变慢, 因此浓度保持约0.15M较佳。他除了可以调整酸碱度也可作金属螯合剂之用

  f.由探讨得知柠檬酸钠浓度作通当调整可有效改变镀层磷含量

  H. 一般还原剂大分为两类:

  次磷酸二氢钠(NaH2PO2H2O,Sodium Hypophosphate)系列及硼氢化钠(NaBH4,Sodium Borohydride)系列,硼氢化钠价贵因此市面上多以次磷酸二氢钠为主 一般公认反应为:

  [H2PO2]- H2Oa H [HPO3]2- 2H(Cat) -----------(1)

  Ni2 2H(Cat)a Ni 2H ----------------------------------(2)

  [H2PO2]- H(Cat)a H2O OH- P----------------------(3)

  [H2PO2]- H2Oa H [HPO3]2- H2------------------(4)

  铜面多呈非活化性表面为使其产生负电性以达到"启镀"之目铜面采先长无电钯方式反应中有磷共析故,4-12%含磷量为常见。故镍量多时镀层失去弹性磁性,脆性光泽增加,有利防锈不利打线及焊接。

  1.3无电金

  A. 无电金分为"置换式镀金"与"无电金"前者就是所谓"浸镀金"(lmmersion Gold plating) 镀层薄且底面镀满即停止。后者接受还原剂供应电子故可使镀层继续增厚无电镍。

  B. 还原反应示性式为:还原半反应:Au e- Au0 氧化半反应式: Reda Ox e- 全反应式::Au Red aAu0 Ox.

  C. 化学镀金配方除提供黄金来源错合物及促成还原还原剂,还必须并用螯合剂、安定剂、缓冲剂及膨润剂等才能发挥效用。

  D. 部份研究报告显示化学金效率及质量改善,还原剂选用是关键,早期甲醛到近期硼氢化合物,其中以硼氢化钾最普遍效果也佳,若与他种还原剂并用效果更理想。代表反应式如后:

  还原半反应:Au(CN)-2 e-a Au0 2CN-

  氧化半反应式:BH4- H2O a BH3OH- H2

  BH3OH- 30H- a BO2- 3/2H2 2H20 3e-

  全反应式:BH3OH" 3AU(CN)z" 30H-, BOz吐 /2Hz 2H,0 3Auo  6CN-

  E. 镀层之沉积速率随氢氧化钾及还原剂浓度和槽温提高而提升,但随氰化钾浓度增加而降低。

  F. 已商业化制程操作温度多为9O℃左右,对材料安定性是一大考验。

  G. 细线路底材上若发生横向成长可能产生短路危险

  H. 薄金易有疏孔易形成Galvanic Cell Corrosion K。薄金层疏孔问题可经由含磷后处理钝化方式解决。

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