当前位置：RF前端整合SOC芯片给生产测试带来的变革
- 名称：RF前端整合SOC芯片给生产测试带来的变革
- 类型：单片机学习
- 授权方式：免费版
- 更新时间：09-10 23:12:33
- 下载要求：无需注册
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- 语言简体中文
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- 推荐度：3 星级
《RF前端整合SOC芯片给生产测试带来的变革》简介
标签：单片机开发,单片机原理,
本文的主旨是启发读者去考虑电子芯片集成度提高对终测或生产测试的影响。特别的，射频(RF)芯片测试方法的主要转移变得越来越可行。一些关于生产测试的关键项目将在这里进行讨论。它们是：系统级测试：RF晶园探针测试；SIP相对SOC的架构；设计人员的新的责任：RF内置自检(BIST);对于测试系统构架的影响。， 大小：949 KB
Tag:单片机学习，单片机开发,单片机原理，单片机学习
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