基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统

名称：基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统
类型：显示与光电
授权方式：免费版
更新时间：09-11 20:41:10
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下载次数：6439次
语言简体中文
大小：9.64 MB
推荐度：2 星级

《基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统》简介

标签：信息显示与光电技术,
本文介绍一种手机翻盖耐久性测试系统。该系统由National Instruments公司的PXI-8186控制器、PXI-7344、UMI-7764、YASKAWA公司的SGDL-04AS伺服单元和SGML-04AF12伺服电机以及基于虚拟仪器的用户界面组成。该测试系统使用虚拟仪器使系统规模最小化，提高系统的稳定性且易于维护和扩展，操作界面友好，大小：9.64 MB

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