实用模拟BIST的基本原则

文章摘要：这两种技术表示了时间测量的一个重要原则：控制一个信号被采样的时间时，要么是一个来自可调延迟的恒定时间偏移，要么是来自一个可调振荡器的恒定频率偏移，如PLL。在实现纳米CMOS时，低抖动延迟越来越困难，但低抖动频率偏移却越来越容易实现。3.3 原则三 模拟BIST的另一个原则通过减去系统误差来提高精度。例如，当测量电压时，必须消除任何比较器或运算放大器运算放大器运算放大器（Operational Amplifier,简称OP、OPA、OPAMP）是一种直流耦合﹐差模（差动模式）输入、通常为单端输出的高增益电压放大器。在实际电路中，通常结合反馈网络和不同的反馈方式，共同组成某些功能和特性不同

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　　这两种技术表示了时间测量的一个重要原则：控制一个信号被采样的时间时，要么是一个来自可调延迟的恒定时间偏移，要么是来自一个可调振荡器的恒定频率偏移，如PLL。在实现纳米CMOS时，低抖动延迟越来越困难，但低抖动频率偏移却越来越容易实现。

　　3.3 原则三

　    模拟BIST的另一个原则通过减去系统误差来提高精度。例如，当测量电压时，必须消除任何比较器或运算放大器
运算放大器

　　运算放大器（Operational Amplifier,简称OP、OPA、OPAMP）是一种直流耦合﹐差模（差动模式）输入、通常为单端输出的高增益电压放大器。在实际电路中，通常结合反馈网络和不同的反馈方式，共同组成某些功能和特性不同的模块，这些模块是各种电子电路中最基本的环节。可见运放在电子电路中的应用之广。 [全文]

的偏移电压。如果这些电路有可忽略的偏移，则必须测量该偏移，以验证它确实是可忽略的；否则，就必须减去它的值。比较简单的方法是假设该偏移较大，将其减掉。当测量延迟时，必须从输出的延迟中，减去待测电路输入端的测试接入路径延迟，以确保消除了接入路径的延迟。ATE通常采用乘法和减法，做模拟自校准，但这种运算需要太多电路，对BIST并不经济。当系统误差上下起伏时，可能会出现低频效应，如由于电力线噪声而使偏移以50 Hz或60 Hz变化。

　　通过增加采样来计算均值，可以提高精度。一个信号或测量电路中的随机噪声限制了对任何信号特性测量的可重复性。当在一次测量中包含了更多的采样时，就改善了测量的变动与可重复性。模拟测量电路实现均化的方法一般是用低通滤波，或用一个电容做电荷积分。

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　　可以在模拟BIST的数字电路中使用全加法器，但很多情况下，用二进制计数器可以更高效地实现均化。用简单的均化或减法都无法抑制掉非随机的噪声，例如来自邻近同步逻辑或60 Hz电力线的干扰。不过，可以通过与干扰的同步采样，或对干扰频率作整数周期的积分，从而降低其影响。

　　为获得成本效益，BIST电路必须有高于待测电路的成品率。对于数字BIST的情况，这种要求只是意味着其面积必须小于待测电路面积。然而对于模拟BIST，这一原则还意味着BIST必须在不影响成品率情况下，实现所需要的线性度、噪声以及带宽。在一项研究中，一个测试芯片上只有70%的小型模拟BIST电路可以实现所需要的测量精度。该BIST的成品率对SoC（系统单芯片）的影响等同于电路占整个SoC的30%情况。

　　使BIST的成品率高于待测模拟电路的最佳方式是尽可能减少BIST中的模拟电路数量，即使其数字化。通过在多个功能之间共享一个BIST电路，可以减少与BIST电路有关的面积。数字BIST可以很容易实现这一任务，但模拟BIST则相反，因为需要测试的功能之间存在差异性。这就是MadBIST建立的原因，这种方法由MF Ton er和Gordon W Roberts共同开发。采用MadBIST时，一只DSP
DSP

　　dsp是digital signal processor的简称，即数字信号处理器。它是用来完成实时信号处理的硬件平台，能够接受模拟信号将其转换成二进制的数字信号，并能进行一定形式的编辑，还具有可编程性。由于强大的数据处理能力和快捷的运行速度，dsp在信息科学领域发挥着越来越大的作用。 [全文]

首先测试一只ADC然后才是DAC。MadBIST、ADC和DAC，然后再测试其它模拟电路。

　　采用共享分析块有一个问题，即将感兴趣的模拟信号传送给分析块。完成这个工作一般采用模拟总线，但它们会带来负载、噪声和非线性，并且会减小带宽。一种替代方法是在本地将信号转换为某种数字表述，然后采用一个数字总线。

　　模拟BIST必须能够采用基于规范的结构化测试。换句话说，所做激励与响应分析的结果，必须能与模拟电路的功能规范作校对，但它们也必须面向制造缺陷，帮助做诊断，并尽可能减少测试时间。面向缺陷的测试有助于完成这个任务，但一般不会尝试使用仿功能测试。飞利浦（现在的恩智浦公司）在1995年首先在基于规范的传统模拟测试与面向缺陷的测试之间做了一个公开的行业对比。结论是：当设计规范有更大的裕度，并且过程得到良好的控制时，面向缺陷的测试能对相近的缺陷覆盖实现更快的测试。另一方面，基于规范的测试对保持测试覆盖和成品率都是必要的。

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