OCL功放的故障源及改进

文章摘要：在维修实践中看到，音频功放的损坏往往表现为末级功放管击穿，甚至相关电阻及驱动管也烧毁。通常将其更换便可修复，然而同样的故障会再次发生，因为真正的故障源没有排除。故障的原因，除了通常解释的所谓超载使用（过压、过热、过载等）及元器件质量欠佳外，有一个不易觉察的故障源——深藏不露的冷面杀手。以某种典型的OCL功放为例，（见图），处于中间部位的由V4、Rp、R13构成的恒压源，决定了末级功放管的静态电流。它要求：1.在驱动管V5或V9的两基极间保持恒定的压差（约2.5—3V，对于VMOS管的末级，此值要大一些），Uce≈（1+Rp／R13）0.7V；2.此压差要求精确，且随末级功放管的温升而降，即温度

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　　在维修实践中看到，音频功放的损坏往往表现为末级功放管击穿，甚至相关电阻及驱动管也烧毁。通常将其更换便可修复，然而同样的故障会再次发生，因为真正的故障源没有排除。

　　故障的原因，除了通常解释的所谓超载使用（过压、过热、过载等）及元器件质量欠佳外，有一个不易觉察的故障源——深藏不露的冷面杀手。

　　以某种典型的OCL功放为例，（见图），处于中间部位的由V4、Rp、R13构成的恒压源，决定了末级功放管的静态电流。

　　它要求：1.在驱动管V5或V9的两基极间保持恒定的压差（约2.5—3V，对于VMOS管的末级，此值要大一些），Uce≈（1+Rp／R13）0.7V；2.此压差要求精确，且随末级功放管的温升而降，即温度补偿作用。

　　为此，通常将V4与末级功放管装在一起，以求温度一致；将其上偏置用可调电阻Rp，以便精确调定，正是这种做法，使它成为致命的故障源。

　　碳膜可调电阻的可靠性是很低的，使用一段时间后往往会发生不同程度的碳膜表面氧化和触点弹性退化，造成触点与碳膜接触不良，而且具有随机性和偶然性。

　　在图中，如果可调电阻Rp偶发接触不良，使V4的上偏置电阻陡然变大，必使V4的集一射压差Vce猛然增大，导致末级功放管V6或V10过流击穿，驱动管V5或V9及相关电阻R7或R14也烧毁。检修时往往只换掉了被击穿的功放管等，而没有注意到Rp这个祸根，由于接触不良是偶然发生的，它就很难在检测时稳定地再现，祸根不除，此后它还会再度出击。

　　这显然是OCL功放电路美中不足的一点瑕疵，改进的方法也很简单：将RO与R13对调，即将可调电阻用于下偏置（R13应适当增大），此后Rp再发生接触不良就不会危及安全，顶多引起偶然地交越失真，或者将Rp调定后用等值的固定电阻取代。