利用EDA工具提高系统级芯片测试的效率

文章摘要：如图5所示是DFT解决方案：对全扫描逻辑电路的测试，设计者可以选用Fastscan，对部分扫描逻辑电路的测试，设计者可以选用FlexTest，对IP或宏模块的内建自测试，设计者也可以选用LBISTArchitect。对Memory的测试，设计者可以选用MBISTArchitect，也可以选用fastscan的子模块功能Macrotest。采用边界扫描电路的设计，设计者可以选用BSDArchitect。测试综合完成自动插入全扫描或部分扫描的测试逻辑，大大增强了IC和ASIC设计的可测试性。它在设计过程的早期阶段进行可测性分析，在测试向量生成和扫描自动综合之前发现并修改违反测试设计规则的问题，尽可

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　　如图5所示是DFT解决方案：对全扫描逻辑电路的测试，设计者可以选用Fastscan，对部分扫描逻辑电路的测试，设计者可以选用FlexTest，对IP或宏模块的内建自测试，设计者也可以选用LBISTArchitect。对Memory的测试，设计者可以选用MBISTArchitect，也可以选用fastscan的子模块功能Macrotest。采用边界扫描电路的设计，设计者可以选用BSDArchitect。

　　测试综合完成自动插入全扫描或部分扫描的测试逻辑，大大增强了IC和ASIC设计的可测试性。它在设计过程的早期阶段进行可测性分析，在测试向量生成和扫描自动综合之前发现并修改违反测试设计规则的问题，尽可能提高ATPG的效率并缩短测试开发的周期。

　　测试综合工具DFTAdvisor利用友好的图形用户界面引导完成可测性分析，执行全面的测试规则检查，完成并优化扫描逻辑插入，保证在ATPG之前不存在任何遗留的可测性问题。其主要特点如下：

　　1. 支持智能化的、层次化的测试逻辑的自动化插入；

　　2. 通过密集的基于仿真的测试规则检查(超过140条测试规则)来确保高效率的可测性分析；在设计的早期阶段，发现并纠正设计中影响可测性的问题；

　　3. 支持Mux-DFF、Clocked-Scan和LSSD扫描结构；

　　4. 同时支持全扫描与部分扫描的识别与插入；提供了多种可选的部分扫描插入方式，并可自动选择部分扫描方式；

　　5. 通过自动测试点插入与综合来加强设计的可测性；

　　6. 通过插入测试逻辑电路来自动纠正设计中违反可测性设计规则的部分；

　　7. 支持版图层次上的扫描链单元的次序控制，以提高测试逻辑插入过程中的时序有效性；

　　8. 为后续的ATPG过程提供充分支持，生成ATPG工具要求的全部SETUP文件，可直接调用ATPG 工具确保快速DFT流程；

　　9. 支持UNIX平台(Solaris, HP-PA) 及LUNIX操作平台。

　　ATPG是指测试向量自动生成。它是可测试性设计的核心，因为生成测试向量的质量好坏直接关系到测试成本的高低。一方面ATPG工具针对Stuck-at故障模型、跃迁故障模型、路径延时故障模型、IDDQ模型生成高质量的测试向量，另一方面ATPG工具利用生成的测试向量进行故障仿真和测试覆盖率计算。ATPG算法又分为组合ATPG和时序ATPG两种。

　　FastScan测试向量自动生成工具可以针对全扫描IC设计或规整的部分扫描设计生成高质量的的测试向量。其主要特点如下：

　　1. 支持对全扫描设计和规整的部分扫描设计自动生成高性能、高质量的测试向量；

　　2. 支持多种故障模型：stuck-at、transition、critical path和IDDQ；

　　3. 提供超过140条基于仿真的测试设计规则检查；

　　4. 提供高效的静态及动态测试向量压缩性能；

　　5. FastScan CPA选项支持在速测试用的路径延迟测试向量生成；

　　6. FastScan MacroTest选项支持小规模的嵌入模块或存储器的测试向量生成；

　　7. FastScan Diagnostics选项可以通过分析ATE机上失败的测试向量来帮助定位芯片上的故障；

　　8. ASICVector Interfaces选项可以针对不同的ASIC工艺与测试仪来生成测试向量；

　　9. 支持32位或64位的UNIX平台(Solaris, HP-PA)及LUNIX操作平台。

　　FlexTest的时序ATPG算法使它在部分扫描设计的ATPG领域拥有巨大的优势，它也可以显著提高无扫描或全扫描设计的测试码覆盖率；其内嵌故障仿真器可以估计功能测试码的故障覆盖率，然后在此基础上生成部分扫描并进行ATPG。其主要特点如下：

　　1. 可以使用已有的功能测试向量进行故障仿真；计算测试覆盖率；

　　2. 针对一般的时序电路或部分扫描电路的进行高效ATPG与故障仿真；

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