基于FPGA的NAND Flash ECC校验

文章摘要： 值得说明的是，如果数据包发生的错误多于2 bit，该算法并不适宜。测定了更多比特(≥3)出错的情况，结果证明，errSTATUS的结果可能为“00”、“01”、“10”中的任何一个，也就是说在这种情况下，该算法很可能出现误检。因此，在这里，可以得出与ECC校验原理相符的结论：ECC能够保证纠正1 bit错误和检测2 bit错误，但对于1 bit以上的错误无法纠正，对2 bit以上的错误不保证能检测。4 结束语 本文将ECC校验算法通过硬件编程语言VHDL在Ahera QuanusⅡ7．0开发环境下进行了

基于FPGA的NAND Flash ECC校验,标签：电路设计,http://www.88dzw.com

    值得说明的是，如果数据包发生的错误多于2 bit，该算法并不适宜。测定了更多比特(≥3)出错的情况，结果证明，errSTATUS的结果可能为“00”、“01”、“10”中的任何一个，也就是说在这种情况下，该算法很可能出现误检。因此，在这里，可以得出与ECC校验原理相符的结论：ECC能够保证纠正1 bit错误和检测2 bit错误，但对于1 bit以上的错误无法纠正，对2 bit以上的错误不保证能检测。

4 结束语
    本文将ECC校验算法通过硬件编程语言VHDL在Ahera QuanusⅡ7．0开发环境下进行了后仿真测试，实现了NAND Flash的ECC校验功能。本程序可实现每256 Byte数据生成3 Byte ECC校验数据，且通过与原始ECC数据对比，能够保证检测出1 bit的错误及其出错位置，进一步结合对此错误的纠正，可应用于NAND Flash读写控制器的FPGA设计，实现对数据的ECC校验，确保数据准备有效地传输。经硬件实验结果反馈，该算法硬件适应性良好。
    ECC是一种在NAND Flash处理中比较专用的校验，其原理简便、易于执行、计算速度快并且数据量越大，其算法越有效。但这样一个高效的算法仍存在缺陷，那就是其有限的纠错能力。本文也验证了其对于2 bit以上错误是无效的，尽管这种情况在Flash中发生的几率很低，但就校验原理来说，是否存在一种改进的算法可用于多比特错误的纠正还有待进一步研究和验证。

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