挠性印制线路板试验方法之工业标准(推荐)

[08-09 22:56:58]   来源:http://www.88dzw.com  行业标准   阅读:8611

文章摘要:日本工业标准 JIS C 5016—1994 1.适用范围 本标准是规定了电子设备用的单面及双面的挠性印制线路板(以下称挠性印制板)的试验方法,与制造方法无关。 备注 1).本标准不包括挠性多层印制板和刚挠印制板。 2).本标准中引用标准,见附表1所示。 3).本标准所对应国际标准如下: IEC 249—1(1982)印制电路基材 第1部分:试验方法 IEC 326—2(1990)印制板 第2部分:试验方法 2.术语定义 本标准用的主要术语的定义,是在JIS C 0010及JIS C 5603中规定。 3.试验状态 3.1 标准状态 在专项标准没有规定时,试验是按JIS C 0010的5.3条

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日本工业标准 JIS C 5016—1994
1.适用范围
本标准是规定了电子设备用的单面及双面的挠性印制线路板(以下称挠性印制板)的试验方法,与制造方法无关。
备注 1).本标准不包括挠性多层印制板和刚挠印制板。
2).本标准中引用标准,见附表1所示。
3).本标准所对应国际标准如下:
IEC 249—1(1982)印制电路基材 第1部分:试验方法
IEC 326—2(1990)印制板 第2部分:试验方法
2.术语定义
本标准用的主要术语的定义,是在JIS C 0010及JIS C 5603中规定。
3.试验状态
3.1 标准状态 在专项标准没有规定时,试验是按JIS C 0010的5.3条[测定及试验的标准大气条件(标准状态)]标准状态下进行(温度15~35℃,相对湿度25~75%,气压86~106Kpa)。但是,对标准状态下判别产生异疑时,或者有特别要求时,按3.2条。
另外,试验在标准状态进行有困难时,对判别不会产生疑问的,可以在标准状态以外的状态下进行。
3.2 判别状态 判别状态是按JIS C 0010的5.2条[判别测定及判别试验的标准大气条件(判别状态)]的判别状态(温度20±2℃,相对湿度60~70%,气压86~106Kpa)。
4.试样
4.1 试样的制作 试样制作方法为(1)和(2)。
而要注意试样表面不可有油类、汗和其它污染。
(1)取样方法 试样是从实际使用的挠性印制板中抽取。在专项标准指定形状和尺寸时,以不影响性能的方法切割试样。
而有设计的试验样板时,以此作为试样。
(2)试验图形的方法 以4.2的试验图形为试样,试验对象是以与挠性印制板相同材料和制造方法制作的。
4.2 试验图形的形状和尺寸 试验图形的形状和尺寸是附图1~8。
5.前处理
试样前处理是在标准状态下放置24±4小时。
6.外观
显微切片及其尺寸检验
6.1 外观 外观检验是用目视或3~10倍放大镜,对照专项标准确认挠性印制板的品质,对外观、加工质量、图形等检查。
另外,用显微切片看试样加工质量状态时,用约250倍的显微镜,通常用环氧化树脂、聚脂树脂等填埋入试样,固化,切割试样的观察部分,研磨割切面,检查研磨面。
6.2 显微切片 显微切片是在专项标准中规定,检查镀通孔、导体和挠性印制板的内部状态、外观、尺寸等。
(1)装置 装置是研磨盘以及倍率从100倍到1000倍的显微镜。测定镀层厚度0.001mm以上精度的显微镜或者同等以上精度的物品。
(2)材料 材料是脱模料,填埋用树脂,研磨布(#180、#400、#1000等)、研磨纸(#180、#400、#1000等),以及研磨料(铝、氧化铬等).
(3)试样制作 切割适当大小的试样,不可损伤观察部位,埋入填埋树脂。然后,用研磨布纸,从粒度粗到细依次进行精研磨,再在旋转的研磨盘的毛毡面上用流动研磨料进行细研磨。这研磨面必须与层间成85~95°范围。
在测定镀通孔镀层厚度时,显微切片显现的孔径尺寸必须是在事前测定孔直径的90%以上。另外,在必须有明显电镀层分界线时,试样研磨后可进行蚀刻。
(4)试验 试验是按专项标准规定的项目,规定的倍率检查。
6.3 尺寸检验
6.3.1 外形
(1)装置 装置是JIS B 7153中规定的工具显微镜,或者是具有同等以上精度的器具。
(2)测定 测量长度和宽度,读数单位0.05mm。
6.3.2 厚度
(1)装置 装置是JIS B 7503中规定的目视量值0.001mm的千分卡,或者是具有同等以上精度的器具。
(2)测定 测量板厚或整个板厚,读数单位0.001mm。
6.3.3 孔径
(1)装置 装置是精度0.01mm以上的读数放大镜,或者是具有同以上精度的器具。
(2)测定 测量规定孔的直径。
6.3.4 孔位置
(1)装置 装置是精度0.01mm以上的座标测定仪或者工具显微镜,或者是同等到以上精度的器具。
(2)测定
(a)当测定孔的位置与座标格对应时,以适当方式固定挠性印制板,从挠性印制板上在座标格上的基准孔或基准点测量到规定孔的距离,这是按X轴与Y轴方向测定。
(b)当测定任意孔的位置时,以适当方式固定挠性印制板,测量需测定的孔与孔之间距离。
6.3.5 导体宽度和最小导体间距
(1)装置 装置是精度0.01mm以上的读数放大镜,或者是具有同等以上精度的器具。
(2)测定 以适当方式固定挠性印制板,测量导体宽度与最小导体间距的投影尺寸。

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